Коломийцев Алексей Сергеевич

 

 

кандидат технических наук, доцент

заведующий кафедрой

Заместитель директора Института нанотехнологий, электроники  приборостроения  по научной работе

 

 

 

 

Родился в г. Таганроге 11.07.1985 г.

В 2007 г. с отличием окончил ТРТУ по специальности 200100 «Микроэлектроника и твердотельная электроника». В 2008 г. защитил магистерскую диссертацию по направлению «Электроника и микроэлектроника». С 2008 по 2011 г. обучался в очной аспирантуре по специальности 05.27.01 «Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и нано-электроника, приборы на квантовых эффектах». В 2011 г. защитил диссертацию на соискание ученой степени кандидата технических наук по теме «Разработка технологических основ субмикронного профилирования поверхности подложек методом фокусированных ионных пучковдля создания микро- и наноструктур». С 2011 по 2012 г. – ассистент кафедры Технологии микро- и наноэлектронной аппаратуры. С 2012 г. – доцент кафедры Нанотехнологий и микросистемной техники. С 2013 г. – зам. директора Института нанотехнологий, электроники  приборостроения  по научной работе.

 

Область научных интересов:

Электронная микроскопия, фокусированные ионные пучки,взаимодействие ионов с твердым телом, методы диагностики и анализа наноструктур, разработка и исследование технологических процессов изготовления элементной базы приборовмикро- инаноэлектроники.

 

Научные достижения:

Опубликовано более 100 научных работ, в том числе 48 работ в изданиях, индексируемыхРИНЦ, 17 – индексируемых БД Scopus, 7 – индексируемых БД WebofScience. Автор7 патентов на результаты интеллектуальной деятельности.

Победитель III конкурса работ молодых ученых в области нанотехнологий Rusnanotech-2011. Победитель  конкурса на лучшую научно-исследовательскую работу сотрудников ЮФУ (2013 г.).

Руководитель 2-х грантов в рамках ФЦП «Научные и научно-педагогические кадры инновационной России на 2009-2013 г.г.» (2011-2012 г.). Руководитель гранта РФФИ (2013-2014 г.). Победитель конкурса на право получения грантов Президента Российской Федерации для молодых ученых – кандидатов наук (2016 г.).

Член международного научного сообщества EFUG (Europeanfocusedionbeamusersgroup, http://www.imec.be/efug/).

Руководитель 5 НИР (2011-2016 г.), ответственный исполнитель 7 НИР (2009-2016 г.).

 

Повышение квалификации:

В период с 6 по 28 октября 2007 года прошел стажировку в ЗАО «Нанотехнология-МДТ» (г. Зеленоград) по программе освоения аналитического и технологического оборудования. В период с 13 по 16 мая 2008 года принял участие в обучающем семинаре компании EDAX в г. Санкт-Петербург по теме «Дифрактометрияобратнорассеянных электронов в РЭМ». В период с 11 по 17 октября 2008 года прошел повышение квалификации в компании FEI Company (г. Эйндховен, Нидерланды) по программе «Изучение конструкции и основных принципов работы растрового электронного микроскопа с ионной колонной NovaNanoLab 600, знакомство с новыми методиками и получение практических навыков в области применения растровой электронной микроскопии для микро- и наноэлектроники». В феврале 2011 г. прошел обучение в ООО «Системы для микроскопии и анализа» (г. Москва) по программе «Курс обучения работе с системой фокусированных ионных пучков на двухлучевых аналитических системах FEI». В ноябре 2013 г. прошел курс повышения квалификации в ФГАОУ ВПО «Южный федеральный университет» по программе «Иноязычная профессионально-ориентированная коммуникативная компетентность преподавательского корпуса».

 

Знание иностранных языков: английский, уровень владения B2 (UpperIntermediate)

 

Читаемые курсы:

– Методы анализа и контроля наноструктурированных материалов и систем;

– Инженерная и компьютерная графика;

– Элионныенанотехнологии.

 

Наукометрические показатели:

 Scopus Author ID: 56960373000

Web of Science Researcher ID: http://www.researcherid.com/rid/E-4590-2014

ORCID:  http://orcid.org/0000-0001-7483-0240

SPIN-код (elibrary.ru): 1925-8400

 

Основныенаучныепубликации:

  1. Ageev O.A., Kolomiytsev A.S., Bykov A.V., Smirnov V.A., I.N. Kots Fabrication of advanced probes for atomic force microscopy using focused ion beam // Microelectronics Reliability, 55, 2015 – P. 2131–2134.
  2. R. V. Konakova, O. B. Okhrimenko, A. M. Svetlichnyi, O. A. Ageev, E. Yu. Volkov, A. S. Kolomiytsev, I. L. Jityaev, O. B. Spiridonov Characterization of the field-emission cathodes based on the graphene films on SiC // Semiconductors. – 2015. – Vol. 49. – Iss. 9. – P. 1242-1245.
  3. E. Volkov, I. Jityaev, A. Kolomiitsev Design features of matrix nanoscale pointed graphene/SiC field emission cathodes // IOP Conf. Series: Materials Science and Engineering, 93, 2015, 012-031.
  4. B. G. Konoplev, Ageev O.A., Kolomiitsev A.S. Formation of Nanosize Structures on a Silicon Substrate by Method of Focused Ion Beams // Semiconductors, 2011, vol. 45, No 13, pp.1709-1712.
  5. O. A. Ageev, O. I. Il’in, A. S. Kolomiytsev, B. G. Konoplev, M. V. Rubashkina, V. A. Smirnov, and A. A. Fedotov, V.A. Smirnov Development of a technique for determining young’s modulus of vertically aligned carbon nanotubes using the nanoindentation method // Nanotechnologies in Russia, 2012, Vol. 7, Nos. 1–2, pp. 47–53.
  6. Б.Г. Коноплев, Агеев О.А., Смирнов В.А., Коломийцев А.С., Сербу Н.И. Модификация зондов для сканирующей зондовой микроскопии методом фокусированных ионных пучков // Микроэлектроника, 2012, т.41, №1, с.47-56.
  7. Б.Г. Коноплев, Агеев О.А., Смирнов В.А., Коломийцев А.С., Ильин О.И. Модификация зондовых датчиков-кантилеверов для атомно-силовой микроскопии методом фокусированных ионных пуков // Нано- и микросистемная техника. №4, 2011, с.4-8.
  8. B.G. Konoplev, O.A. Ageev, V.A. Smirnov, A.S. Kolomiitsev, N.I. Serbu Probe modification for scanning probe microscopy by the focused ion beam method // Russian Microelectronics, 2012, Vol. 41, No. 1, pp. 41–50.
  9. 1. O.A. Ageev, S.V. Balakirev, Al.V. Bykov, E.Yu. Gusev, A.A. Fedotov, J.Y. Jityaeva, O.I. Il’in, M.V. Il’ina, A.S. Kolomiytsev, B.G. Konoplev, S.U. Krasnoborodko, V.V. Polyakov, V.A. Smirnov, M.S. Solodovnik, E.G. Zamburg. Development of new metamaterials for advanced element base of  micro- and  nanoelectronics, and microsystem devices.  Chapter In: Advanced Materials – Manufacturing, Physics, Mechanics and  Applications.  Parinov, Ivan A., Chang, Shun-Hsyung, Topolov, Vitaly Yu.(Eds.).  SpringerInternationalPublishingSwitzerland, 2016, 702 p. – pp. 563-580.
  10. О.И. Ильин, А.С. Коломийцев, И.Н. Коц, С.А. Лисицын Формирование наноразмерных структур методом локального ионно-стимулированного осаждения // Материалы 11-й Международной конференции «Взаимодействие излучений с твердым телом», 23-25 сентября 2015 г., Минск, Беларусь, С. 296-298.

 

Учебно-методические публикации:

  1. Агеев О.А., Федотов А.А., Смирнов В.А, Коломийцев А.С. Руководство к выполнению лабораторной работы «Работа с модулем FIB UHV нанотехнологического комплекса «НАНОФАБ» НТК-9». Ч. 3, Изд-во: ТТИ ЮФУ, 2010. – 48 с.
  2. Коломийцев, А.С. Спектроскопические методы исследования наноструктур: учебное пособие ч. I / В.А. Смирнов, В.Н. Джуплин, О.А. Агеев, А.С. Коломийцев. – Таганрог: Изд-во ЮФУ, 2012. – 72 с.
  3. Коломийцев, А.С. Учебно-методическое пособие по организации научных исследований и выполнению лабораторных работ с использованием инновационного интерактивного мультимедийного комплекса по исследованию наноматериалов на базе многофункционального оборудования НОЦ «Нанотехнологии» ЮФУ: учебно-методическое пособие / А.С. Коломийцев, О.А. Агеев, В.В. Иванцов. – Таганрог: Изд-во ЮФУ, 2013. – 40 с.
  4. Коломийцев, А.С. Методические указания по проведению лабораторных работ по дисциплинам «Микро- и нанотехнологии», «Плазменные и лучевые процессы нанотехнологии» магистерских образовательных программ по направлениям: 211000 «Конструирование и технология электронных средств», 222900 «Нанотехнологии и микросистемная техника»: учебно-методическое пособие / А.С. Коломийцев, А.М. Светличный, А.С. Наумченко. – Таганрог: Изд-во ЮФУ, 2013. – 52 с.